Technická diagnostika – metódy a trendy
-
Obr. 1 Prenosný analyzátor SKF Microlog
-
Obr. 2 SKF Inspector 400
-
Obr. 3 Rádiometrický infračervený kamerový modul InfraTec PIR uc 605
-
Obr. 4 Modulárny merací systém spoločnosti National Instruments na báze LabVIEW, využiteľný aj v oblasti automatizovaných meraní na EoLT
-
Obr. 5 Schéma viacvrstvovej neurónovej siete
